┃ 高温试验箱 | 试验温度： 室温+10°C~150°C |
| 独立温控温度范围：150°C+1°C; Resolution: 0.1°C |
| 单腔体通道数：14slots,(横向) |
| 老化板尺寸：570*609(mm)；板间距：100mm |
| 腔体温控：25°C~40°C(0.1°CResolution) |
| 腔体热耗散能力：38KW |
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┃ 系统信号激励 | Pattern Zone：14 |
| I/O Channel：256ch |
| Frequency：25MHZ |
Vector Memory：64M Words （128M Max） |
Format：X or .Q/L/H/0/1/N/P；支持码型：NR/RH/RL/SBC |
| Error Log：2K（per I/O） |
| VIH,VIL：VIH=0.5V~5.5V；VIL≤0.8V |
| 电平分辨率：≤10mV |
| 驱动电流能力：±200mA |
| 输出信号边沿属性：Tr≤10ns ，Tf≤10ns |
| 窗口比较器参考电平范围：VOH/VOL:0.5V~5.5V，兼容LVCMOS、LVTTL等 |
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┃ DPS电源 14ch per BIB (default） | 1~12 supplies 0.5V~5.5V 分辨率：2mV 最大输出: 50A, 200W 精度:±0.3%±10mV 纹波（Vpp）：≤20mV 13~14 supplies DC-12V 最大输出电流：108A Pmax：1300W |
| 负载调整率：≤0.5％+10mV |
| 单块板卡输出功率：≤5000W |
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